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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第237位 185件
(2011年:第242位 175件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第163位 233件
(2011年:第157位 228件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5094530 | X線検査システム | 2012年12月12日 | |
特許 5094994 | ウェハ | 2012年12月12日 | |
特許 5094996 | レーザ加工装置 | 2012年12月12日 | |
特許 5087321 | 半導体発光素子 | 2012年12月 5日 | |
特許 5087526 | 散乱吸収体計測方法及び散乱吸収体計測装置 | 2012年12月 5日 | |
特許 5090837 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム | 2012年12月 5日 | |
特許 5087426 | フォトダイオードアレイ | 2012年12月 5日 | |
特許 5087512 | シャッター装置 | 2012年12月 5日 | |
特許 5087513 | シャッター装置 | 2012年12月 5日 | |
特許 5091695 | 固体撮像装置 | 2012年12月 5日 | |
特許 5091886 | イメージセンサ | 2012年12月 5日 | |
特許 5089289 | 測距センサ及び測距装置 | 2012年12月 5日 | |
特許 5085007 | 固体レーザ増幅器及び固体レーザ発振器 | 2012年11月28日 | |
特許 5081660 | 乳房撮像装置 | 2012年11月28日 | |
特許 5085122 | 半導体光検出素子及び放射線検出装置 | 2012年11月28日 |
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5094530 5094994 5094996 5087321 5087526 5090837 5087426 5087512 5087513 5091695 5091886 5089289 5085007 5081660 5085122
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2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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