ホーム > 特許ランキング > 浜松ホトニクス株式会社 > 2012年 > 特許一覧
浜松ホトニクス株式会社
※ ログインすれば出願人(浜松ホトニクス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第237位 185件
（
2011年：第242位 175件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第163位 233件
（
2011年：第157位 228件）
（ランキング更新日：2025年2月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
浜松ホトニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5094530 | Ｘ線検査システム | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094994 | ウェハ | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094996 | レーザ加工装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5087321 | 半導体発光素子 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087526 | 散乱吸収体計測方法及び散乱吸収体計測装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5090837 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087426 | フォトダイオードアレイ | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087512 | シャッター装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087513 | シャッター装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5091695 | 固体撮像装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5091886 | イメージセンサ | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5089289 | 測距センサ及び測距装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5085007 | 固体レーザ増幅器及び固体レーザ発振器 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5081660 | 乳房撮像装置 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5085122 | 半導体光検出素子及び放射線検出装置 | 2012年11月28日 |
233 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5094530 5094994 5094996 5087321 5087526 5090837 5087426 5087512 5087513 5091695 5091886 5089289 5085007 5081660 5085122
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。浜松ホトニクス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
愛知県日進市岩崎町野田３－１８ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
横浜市中区本町１－７ 東ビル４階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒104-0045 東京都中央区築地1-12-22 コンワビル4F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
