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ルネサスエレクトロニクス株式会社

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　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第28位　1067件（2011年：第26位　1109件）

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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-227279	半導体装置の製造方法	2012年11月15日
特開 2012-222263	半導体装置の不良解析方法、チップ状半導体装置の不良解析方法及び半導体装置の動的不良解析装置	2012年11月12日
特開 2012-220372	検査装置	2012年11月12日
特開 2012-222293	ウェハ押上装置	2012年11月12日
特開 2012-222260	半導体装置の製造方法、ＥＵＶ光照射用の光源およびＥＵＶ光照射用の光源を有する装置	2012年11月12日
特開 2012-219954	半導体装置加工装置および半導体装置製造方法	2012年11月12日
特開 2012-222178	半導体装置	2012年11月12日
特開 2012-222003	半導体装置の製造方法および逐次露光のショットレイアウト方法	2012年11月12日
特開 2012-220358	半導体テスト装置および半導体装置の製造方法	2012年11月12日
特開 2012-221402	リアルタイムシステム、排他制御方法	2012年11月12日
特開 2012-222216	半導体記憶装置	2012年11月12日
特開 2012-220226	検査システム	2012年11月12日
特開 2012-221408	停止線認識装置	2012年11月12日
特開 2012-221119	半導体集積回路の設計支援装置、設計方法、及び設計支援プログラム	2012年11月12日
特開 2012-222192	半導体集積回路及び誤動作防止方法	2012年11月12日

1347 件中 226-240 件を表示

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2012-227279 2012-222263 2012-220372 2012-222293 2012-222260 2012-219954 2012-222178 2012-222003 2012-220358 2012-221402 2012-222216 2012-220226 2012-221408 2012-221119 2012-222192

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