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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第29位 1347件
（
2011年：第22位 1823件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第28位 1067件
（2011年：第26位 1109件）
（ランキング更新日：2021年10月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-256423 | 半導体装置 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256806 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256931 | 半導体集積回路装置の製造方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256950 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256839 | ＩＥ型トレンチゲートＩＧＢＴ | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-255860 | 半導体チップ及び表示装置 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256715 | 研磨装置および半導体装置の製造方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256956 | 半導体装置および半導体装置実装体 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256150 | コンパイル装置、コンパイル方法、及びプログラム | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256906 | 磁気メモリチップを有する半導体装置の製造方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256388 | 半導体装置 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256787 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256797 | 半導体装置 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-256799 | 半導体検査装置 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-255693 | 半導体集積回路及びその制御方法 | 2012年12月27日 |
1347 件中 1-15 件を表示
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2012-256423 2012-256806 2012-256931 2012-256950 2012-256839 2012-255860 2012-256715 2012-256956 2012-256150 2012-256906 2012-256388 2012-256787 2012-256797 2012-256799 2012-255693
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