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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第251位 186件
(2012年:第261位 163件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第252位 155件
(2012年:第348位 106件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-242203 | 測定装置 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-242251 | 導通検査装置及び導通検査方法 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-242252 | 編集装置及び編集方法 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-238473 | 測定装置および設定値記憶方法 | 2013年11月28日 | |
特開 2013-238435 | 基板検査装置および基板検査方法 | 2013年11月28日 | |
特開 2013-234976 | 外観検査装置及び外観検査方法 | 2013年11月21日 | |
特開 2013-231644 | 硝酸イオン濃度測定用センサおよび硝酸イオン濃度測定装置 | 2013年11月14日 | 共同出願 |
特開 2013-231625 | クランプ式インピーダンス測定装置 | 2013年11月14日 | |
特開 2013-228292 | 測定装置 | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-228340 | 絶縁抵抗測定装置および絶縁抵抗測定方法 | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-228278 | フレキシブルセンサ | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-228288 | 測定装置 | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-228272 | 抵抗測定装置 | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-228274 | フレキシブルセンサ | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-228273 | 測定装置および測定方法 | 2013年11月 7日 |
186 件中 16-30 件を表示
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2013-242203 2013-242251 2013-242252 2013-238473 2013-238435 2013-234976 2013-231644 2013-231625 2013-228292 2013-228340 2013-228278 2013-228288 2013-228272 2013-228274 2013-228273
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
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