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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第93位 464件
(2010年:第158位 315件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第53位 577件
(2010年:第129位 243件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-49694 | D/A変換器のアナログ電流の生成方法及びD/A変換器 | 2011年 3月10日 | |
特開 2011-49874 | 送信回路 | 2011年 3月10日 | |
特開 2011-49611 | 多層配線基板及びその製造方法 | 2011年 3月10日 | |
特開 2011-44111 | ソフトウェアのテスト方法及びプログラム | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44211 | 半導体メモリおよび半導体メモリの動作方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44188 | 半導体メモリおよび半導体メモリの冗長方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44622 | 半導体装置 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44599 | 集積回路装置の製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44527 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-45025 | データ転送方法及びデータ転送装置 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44979 | 直交変復調回路 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-38987 | 半導体集積回路、故障検出方法及びマイクロコントローラ | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-38798 | 欠陥観察装置、欠陥観察方法、及び半導体装置の製造方法 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-38787 | 半導体装置及び半導体装置の試験方法 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-40583 | 半導体装置の製造方法及び露光装置 | 2011年 2月24日 |
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2011-49694 2011-49874 2011-49611 2011-44111 2011-44211 2011-44188 2011-44622 2011-44599 2011-44527 2011-45025 2011-44979 2011-38987 2011-38798 2011-38787 2011-40583
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2月25日(火) -
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2月26日(水) -
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2月26日(水) -
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2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
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3月4日(火) - 東京 港区
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