ホーム > 特許ランキング > 富士通セミコンダクター株式会社 > 2011年 > 特許一覧
富士通セミコンダクター株式会社
※ ログインすれば出願人(富士通セミコンダクター株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第93位 464件
（
2010年：第158位 315件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第53位 577件
（2010年：第129位 243件）
（ランキング更新日：2025年4月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4846306 | 半導体記憶装置及びそれを用いた半導体集積回路システム並びに半導体記憶装置の制御方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846755 | 携帯型電子機器 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846570 | 半導体基板および半導体装置の製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847152 | 半導体装置とその製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845664 | 塗布装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845475 | 画像表示装置およびその制御方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845624 | 半導体装置とその製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846381 | 帯域割り当て方法、通信制御装置及び通信装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847383 | 順序回路及びその高速化方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846721 | 半導体装置とその製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846493 | デバッグシステム及びデバッグ回路 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845400 | 半導体装置の設計方法および半導体装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845299 | 半導体装置の製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845543 | 遅延故障試験回路 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846605 | タイミング検証方法、及びタイミング検証装置 | 2011年12月28日 |
577 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4846306 4846755 4846570 4847152 4845664 4845475 4845624 4846381 4847383 4846721 4846493 4845400 4845299 4845543 4846605
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。富士通セミコンダクター株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
4月9日(水) -
4月9日(水) -
4月10日(木) - 東京 港区赤坂3-9-1 紀陽ビル4階
【セミナー｜知財業界で働くなら知っておくべき】知財部長と代表弁理士が伝える、知財部と事務所の違いとは〈4/10(木)19時～〉
4月11日(金) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都武蔵野市吉祥寺本町１丁目35-14-202 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 鑑定 コンサルティング
東京都練馬区豊玉北６－１１－３ 長田ビル３階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 鑑定 コンサルティング
〒453-0012 愛知県名古屋市中村区井深町１番１号 新名古屋センタービル・本陣街２階 ２４３－１号室 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
