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富士通セミコンダクター株式会社

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　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第53位　577件（2010年：第129位　243件）

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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-29512	半導体集積回路の試験方法及び試験装置	2011年 2月10日
特開 2011-28789	半導体集積回路	2011年 2月10日
特開 2011-28660	半導体装置、無線タグおよび方向判定方法	2011年 2月10日
特開 2011-27681	故障検出回路，故障検出方法および半導体集積回路	2011年 2月10日
特開 2011-27678	集積回路装置	2011年 2月10日
特開 2011-27519	コンタクタ、半導体集積回路の試験方法及び試験装置	2011年 2月10日
特開 2011-29676	荷電粒子ビーム露光方法及び装置、荷電粒子ビーム露光データ作成方法及びプログラム、並びに、ブロックマスク	2011年 2月10日
特開 2011-29417	半導体装置	2011年 2月10日
特開 2011-28678	生産装置及び生産方法	2011年 2月10日
特開 2011-28644	電源ノイズ解析方法及び電源ノイズ解析プログラム	2011年 2月10日
特開 2011-28631	設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法	2011年 2月10日
特開 2011-29669	半導体装置	2011年 2月10日
特開 2011-29654	半導体装置	2011年 2月10日
特開 2011-29615	ＬＥＤ駆動回路及び半導体装置	2011年 2月10日
特開 2011-29562	半導体ウェハ端面の処理方法および半導体装置の製造方法	2011年 2月10日

464 件中 376-390 件を表示

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2011-29512 2011-28789 2011-28660 2011-27681 2011-27678 2011-27519 2011-29676 2011-29417 2011-28678 2011-28644 2011-28631 2011-29669 2011-29654 2011-29615 2011-29562

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