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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第93位 464件
(2010年:第158位 315件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第53位 577件
(2010年:第129位 243件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-29473 | 抵抗値調整回路 | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-29321 | 基板検査方法 | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-29286 | 半導体装置とその製造方法 | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-29255 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-29296 | 半導体装置の製造方法および半導体装置 | 2011年 2月10日 | 共同出願 |
特開 2011-23983 | ネットワークノード | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-22694 | 検証支援プログラム、検証支援装置および検証支援方法 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-23549 | マスクパターン評価方法、マスクパターン補正方法及びマスクパターン発生装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-23490 | ボディバイアス制御回路及びボディバイアス制御方法 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-22757 | レイアウト検証方法及びレイアウト検証装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-22752 | 記憶制御装置及び制御方法 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-22693 | 集積回路の設計方法、集積回路の設計プログラムおよび集積回路の設計装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-23110 | マルチポートメモリおよびその制御方法 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-23454 | 強誘電体膜を有するデバイスの製造方法及び熱処理装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-23390 | デバイスの製造方法及びデバイス | 2011年 2月 3日 |
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2011-29473 2011-29321 2011-29286 2011-29255 2011-29296 2011-23983 2011-22694 2011-23549 2011-23490 2011-22757 2011-22752 2011-22693 2011-23110 2011-23454 2011-23390
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2月25日(火) -
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2月26日(水) -
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2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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3月4日(火) -
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3月5日(水) -
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3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
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3月7日(金) - 東京 港区
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