特許ランキング - 出願人詳細情報 -

富士通セミコンダクター株式会社

※ ログインすれば出願人(富士通セミコンダクター株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第93位　464件（2010年：第158位　315件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第53位　577件（2010年：第129位　243件）

（ランキング更新日：2025年2月19日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-197810	ＤＭＡコントローラ	2011年10月 6日
特開 2011-199071	半導体装置及びその製造方法	2011年10月 6日
特開 2011-199046	半導体装置及びその製造方法	2011年10月 6日
特開 2011-199009	半導体装置及びその製造方法	2011年10月 6日
特開 2011-198988	半導体装置の製造方法	2011年10月 6日
特開 2011-198999	半導体装置及びその製造方法	2011年10月 6日
特開 2011-198411	受信回路、受信回路の制御方法及び受信回路の試験方法	2011年10月 6日
特開 2011-199058	ＥＳＤ保護回路及び半導体装置	2011年10月 6日
特開 2011-196746	上下可動式プローブカード、試験方法及び試験装置	2011年10月 6日
特開 2011-199443	逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ、および逐次比較型Ａ／Ｄコンバータの比較時間検出方法	2011年10月 6日
特開 2011-196829	半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路	2011年10月 6日
特開 2011-199607	発振回路	2011年10月 6日
特開 2011-196847	半導体装置の試験方法及び半導体装置	2011年10月 6日
特開 2011-199047	半導体装置	2011年10月 6日
特開 2011-196857	半導体装置及びその初期不良の検出方法	2011年10月 6日

464 件中 91-105 件を表示

... 7

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2011-197810 2011-199071 2011-199046 2011-199009 2011-198988 2011-198999 2011-198411 2011-199058 2011-196746 2011-199443 2011-196829 2011-199607 2011-196847 2011-199047 2011-196857

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。富士通セミコンダクター株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数