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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第93位 464件
(2010年:第158位 315件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第53位 577件
(2010年:第129位 243件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-197810 | DMAコントローラ | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-199071 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-199046 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-199009 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-198988 | 半導体装置の製造方法 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-198999 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-198411 | 受信回路、受信回路の制御方法及び受信回路の試験方法 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-199058 | ESD保護回路及び半導体装置 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-196746 | 上下可動式プローブカード、試験方法及び試験装置 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-199443 | 逐次比較型A/Dコンバータ、および逐次比較型A/Dコンバータの比較時間検出方法 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-196829 | 半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-199607 | 発振回路 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-196847 | 半導体装置の試験方法及び半導体装置 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-199047 | 半導体装置 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-196857 | 半導体装置及びその初期不良の検出方法 | 2011年10月 6日 |
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2011-197810 2011-199071 2011-199046 2011-199009 2011-198988 2011-198999 2011-198411 2011-199058 2011-196746 2011-199443 2011-196829 2011-199607 2011-196847 2011-199047 2011-196857
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