※ ログインすれば出願人(オリンパス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第47位 797件 (2013年:第41位 993件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第52位 646件 (2013年:第50位 719件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-221499 | 研磨工具の製造方法、研磨工具、及び研磨工具製造用の型 | 2014年11月27日 | |
特開 2014-222321 | 顕微鏡システム、貼り合わせ領域の決定方法、及び、プログラム | 2014年11月27日 | |
特開 2014-222305 | カメラシステムおよび焦点調節方法 | 2014年11月27日 | |
特開 2014-220677 | 撮像装置、撮像方法、及びプログラム | 2014年11月20日 | |
特開 2014-219602 | 撮影装置 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-219281 | 分光測定装置 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-220653 | 固体撮像装置 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-220622 | 撮影機器、撮影支援方法、表示装置及び表示方法 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-220749 | 撮影機器及び画像補正方法 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-219319 | 走査型プローブ顕微鏡装置の調整方法、及び、走査型プローブ顕微鏡装置 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-219295 | 標的粒子の検出方法 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-220559 | 固体撮像装置 | 2014年11月20日 | |
特開 2014-216702 | 操作端末、撮影端末、遠隔撮影システム、遠隔撮影方法およびプログラム | 2014年11月17日 | |
特開 2014-215406 | 撮像装置、照明装置、及び顕微鏡装置 | 2014年11月17日 | |
特開 2014-216859 | 固体撮像装置および撮像装置 | 2014年11月17日 |
797 件中 76-90 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2014-221499 2014-222321 2014-222305 2014-220677 2014-219602 2014-219281 2014-220653 2014-220622 2014-220749 2014-219319 2014-219295 2014-220559 2014-216702 2014-215406 2014-216859
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。オリンパス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー21F・22F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都江戸川区西葛西3-13-2-501 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都新宿区新宿5-10-1 第2スカイビル6階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング