※ ログインすれば出願人(株式会社島津製作所)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第80位 506件
(2010年:第78位 581件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第60位 534件
(2010年:第73位 391件)
(ランキング更新日:2025年2月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-127168 | プラズマCVD装置 | 2011年 6月30日 | |
再表 2009-107196 | プラズマ成膜方法、およびプラズマCVD装置 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-127483 | ターボ分子ポンプ | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-128171 | 電子捕獲検出器 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-127995 | X線分析用表示処理装置 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-127974 | 発光分析装置 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-128877 | 測定データ分析処理装置及びプログラム | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-120813 | 回診用X線撮影装置 | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-123572 | 流量制御弁 | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-122618 | 逆止弁 | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-122888 | ICP発光分光分析装置 | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-122864 | ガスクロマトグラフ | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-122822 | クロマトグラフ質量分析装置 | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-124107 | X線撮影装置およびX線撮影装置におけるフィラメント加熱電流の制御方法 | 2011年 6月23日 | |
再表 2009-104262 | マイクロイオン交換チューブを用いたサプレッサ及びそれを用いたイオンクロマトグラフ | 2011年 6月16日 |
506 件中 241-255 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-127168 2009-107196 2011-127483 2011-128171 2011-127995 2011-127974 2011-128877 2011-120813 2011-123572 2011-122618 2011-122888 2011-122864 2011-122822 2011-124107 2009-104262
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社島津製作所の知財の動向チェックに便利です。
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月20日(木) - 東京 港区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
〒102-0072 東京都千代田区飯田橋4-1-1 飯田橋ISビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒130-0022 東京都墨田区江東橋4-24-5 協新ビル402 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
【名古屋オフィス】 〒462-0002愛知県名古屋市中区丸の内2-10-30インテリジェント林ビル2階 【可児オフィス】 〒509-0203岐阜県可児市下恵土 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング