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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第80位 506件
(2010年:第78位 581件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第60位 534件
(2010年:第73位 391件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-85501 | X線検査装置 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85499 | 電子天びん | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85498 | X線検査装置およびX線検査装置用検査プログラム | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85465 | 粒度分布測定装置 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85424 | X線検査方法、及び該X線検査方法を用いたX線検査装置 | 2011年 4月28日 | |
再表 2009-75011 | 質量分析方法及び質量分析システム | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-84368 | 荷役装置 | 2011年 4月28日 | 共同出願 |
特開 2011-78578 | X線撮像装置 | 2011年 4月21日 | |
再表 2009-72332 | 反応容器及び反応処理方法 | 2011年 4月21日 | |
特開 2011-80407 | 真空ポンプ | 2011年 4月21日 | |
特開 2011-80944 | X線CT装置 | 2011年 4月21日 | |
特開 2011-80918 | 材料試験機 | 2011年 4月21日 | |
特開 2011-80917 | 色彩測定装置 | 2011年 4月21日 | |
特開 2011-80819 | 粒子径測定装置 | 2011年 4月21日 | |
特開 2011-72582 | X線撮影装置 | 2011年 4月14日 |
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2011-85501 2011-85499 2011-85498 2011-85465 2011-85424 2009-75011 2011-84368 2011-78578 2009-72332 2011-80407 2011-80944 2011-80918 2011-80917 2011-80819 2011-72582
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -