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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第104位 467件
(2012年:第97位 479件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第83位 474件
(2012年:第74位 511件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-247387 | 裏面照射型固体撮像素子 | 2013年12月 9日 | 共同出願 |
特開 2013-247000 | イオンガイド及び質量分析装置 | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-244751 | 空調システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245396 | 表面波励起プラズマCVD装置及び表面波励起プラズマCVD成膜方法 | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245393 | サンプルホルダ | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-247137 | 固体撮像素子 | 2013年12月 9日 | 共同出願 |
特開 2013-240390 | X線撮影装置 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-242280 | 分光測定器 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-242192 | エッチングモニタ装置 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-242253 | 変位量測定方法および材料試験機 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-242204 | X線検査装置 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-242158 | 成分分析装置および成分分析方法 | 2013年12月 5日 | |
特開 2013-238470 | 分取精製装置 | 2013年11月28日 | |
特開 2013-238407 | 1H−テトラゾール誘導体及び質量分析用マトリックス | 2013年11月28日 | |
特開 2013-238469 | 分取精製装置 | 2013年11月28日 |
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2013-247387 2013-247000 2013-244751 2013-245396 2013-245393 2013-247137 2013-240390 2013-242280 2013-242192 2013-242253 2013-242204 2013-242158 2013-238470 2013-238407 2013-238469
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2月22日(土) - 東京 板橋区
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