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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第97位 479件 (2011年:第80位 506件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第74位 511件 (2011年:第60位 534件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2012-221594 | アレイ検査装置およびアレイ検査方法 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-220365 | 糖ペプチド解析方法及び解析装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-220472 | 分光測定装置及びプログラム | 2012年11月12日 | |
特開 2012-222287 | プラズマCVD成膜装置および基板搭載装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-222179 | プリント配線板 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-221987 | 基板カート、薄膜形成装置および太陽電池製造用薄膜形成装置 | 2012年11月12日 | |
再表 2010-137132 | 陰イオン測定方法 | 2012年11月12日 | |
再表 2010-134295 | 同期型グリッドの箔影除去方法およびそれを用いた放射線撮影装置 | 2012年11月 8日 | |
特開 2012-216589 | 積層ウェハの接着剤注入装置および接着剤注入方法 | 2012年11月 8日 | |
特開 2012-215483 | 蛍光X線分析装置 | 2012年11月 8日 | |
再表 2010-128556 | X線透視撮影台 | 2012年11月 1日 | |
特開 2012-211770 | 電子線分析装置 | 2012年11月 1日 | |
再表 2010-131365 | 表面波プラズマCVD装置および成膜方法 | 2012年11月 1日 | |
特開 2012-211870 | マイクロチップ及びその製造方法 | 2012年11月 1日 | |
再表 2010-131366 | 表面波プラズマCVD装置および成膜方法 | 2012年11月 1日 |
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2012-221594 2012-220365 2012-220472 2012-222287 2012-222179 2012-221987 2010-137132 2010-134295 2012-216589 2012-215483 2010-128556 2012-211770 2010-131365 2012-211870 2010-131366
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11月22日(金) -
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11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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