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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第97位 479件
(2011年:第80位 506件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第74位 511件
(2011年:第60位 534件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-221594 | アレイ検査装置およびアレイ検査方法 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-220365 | 糖ペプチド解析方法及び解析装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-220472 | 分光測定装置及びプログラム | 2012年11月12日 | |
特開 2012-222287 | プラズマCVD成膜装置および基板搭載装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-222179 | プリント配線板 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-221987 | 基板カート、薄膜形成装置および太陽電池製造用薄膜形成装置 | 2012年11月12日 | |
再表 2010-137132 | 陰イオン測定方法 | 2012年11月12日 | |
再表 2010-134295 | 同期型グリッドの箔影除去方法およびそれを用いた放射線撮影装置 | 2012年11月 8日 | |
特開 2012-216589 | 積層ウェハの接着剤注入装置および接着剤注入方法 | 2012年11月 8日 | |
特開 2012-215483 | 蛍光X線分析装置 | 2012年11月 8日 | |
再表 2010-128556 | X線透視撮影台 | 2012年11月 1日 | |
特開 2012-211770 | 電子線分析装置 | 2012年11月 1日 | |
再表 2010-131365 | 表面波プラズマCVD装置および成膜方法 | 2012年11月 1日 | |
特開 2012-211870 | マイクロチップ及びその製造方法 | 2012年11月 1日 | |
再表 2010-131366 | 表面波プラズマCVD装置および成膜方法 | 2012年11月 1日 |
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2012-221594 2012-220365 2012-220472 2012-222287 2012-222179 2012-221987 2010-137132 2010-134295 2012-216589 2012-215483 2010-128556 2012-211770 2010-131365 2012-211870 2010-131366
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2月19日(水) -
2月19日(水) -
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2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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2月25日(火) -
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2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -