株式会社島津製作所
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
（
2013年：第104位 467件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
（2013年：第83位 474件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5549284 | オートサンプラ | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5541242 | Ｘ線撮影装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5541241 | Ｘ線撮影装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5541005 | 放射線断層撮影装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5545358 | ターボ分子ポンプ装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5541464 | ターボ分子ポンプ | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5545139 | 材料試験機および材料試験機における変位量測定方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5545065 | フーリエ変換赤外分光光度計 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5545023 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544909 | Ｘ線検査装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544759 | 質量分析を用いた試料の分析方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5541611 | ＴＦＴアレイ検査方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5541460 | 分光装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5541415 | 分析データ処理方法及び装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5541374 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 | 2014年 7月 9日 |
435 件中 151-165 件を表示
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5549284 5541242 5541241 5541005 5545358 5541464 5545139 5545065 5545023 5544909 5544759 5541611 5541460 5541415 5541374
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