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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
(2013年:第104位 467件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
(2013年:第83位 474件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5396846 | X線CT装置 | 2014年 1月22日 | |
特許 5396684 | 核医学診断装置およびエミッションデータの吸収補正方法 | 2014年 1月22日 | |
特許 5387829 | X線撮影装置 | 2014年 1月15日 | |
特許 5387439 | 放射線撮影装置 | 2014年 1月15日 | |
特許 5391907 | 塩基配列解析装置及びそのプログラム | 2014年 1月15日 | |
特許 5391958 | 液槽式材料試験機 | 2014年 1月15日 | |
特許 5387661 | 光学的測定の解析装置 | 2014年 1月15日 | |
特許 5387536 | 検量線作成方法 | 2014年 1月15日 | |
特許 5387018 | X線断層像撮影装置 | 2014年 1月15日 | |
特許 5386918 | 電子分光装置及び電子分光法並びに多環式芳香族炭化水素イオン銃 | 2014年 1月15日 | |
特許 5386934 | 荷電粒子ビーム装置及びその対物レンズのコンタミネーション防止装置 | 2014年 1月15日 | |
特許 5380916 | 放射線断層撮影装置、および放射線断層撮影装置におけるノイズの除去方法 | 2014年 1月 8日 | |
特許 5382170 | イオン化用エミッタ、イオン化装置及びイオン化用エミッタの製造方法 | 2014年 1月 8日 | |
特許 5381941 | 粒度分布測定装置 | 2014年 1月 8日 | |
特許 5382610 | 積層基板の形成方法、および形成装置 | 2014年 1月 8日 |
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5396846 5396684 5387829 5387439 5391907 5391958 5387661 5387536 5387018 5386918 5386934 5380916 5382170 5381941 5382610
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