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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第109位 428件
(2013年:第104位 467件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第89位 435件
(2013年:第83位 474件)
(ランキング更新日:2025年2月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5590043 | TFT基板検査装置およびTFT基板検査方法 | 2014年 9月17日 | |
特許 5585196 | 医療用検査装置 | 2014年 9月10日 | |
特許 5585434 | 全有機体炭素測定装置 | 2014年 9月10日 | |
特許 5584995 | 放射線撮影装置およびキャリブレーションデータの取得方法 | 2014年 9月10日 | |
特許 5585733 | 放射線検出器およびその製造方法 | 2014年 9月10日 | |
特許 5585394 | 多重周回飛行時間型質量分析装置 | 2014年 9月10日 | |
特許 5585510 | 駆動装置 | 2014年 9月10日 | |
特許 5581704 | X線撮影装置 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5582137 | 高電圧装置、およびそれを備えた放射線源、放射線透視撮影装置 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5582098 | 材料試験機 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5583374 | 光硬化樹脂の特性試験装置、その試験装置で使用する保持具、特性試験方法 | 2014年 9月 3日 | 共同出願 |
特許 5581985 | TOC計 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5582089 | 材料試験機 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5578441 | TFTアレイ検査装置およびTFTアレイ検査方法 | 2014年 8月27日 | |
特許 5578241 | 管内で対象成分を操作するためのデバイス及び方法 | 2014年 8月27日 |
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5590043 5585196 5585434 5584995 5585733 5585394 5585510 5581704 5582137 5582098 5583374 5581985 5582089 5578441 5578241
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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