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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第80位 506件
(2010年:第78位 581件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第60位 534件
(2010年:第73位 391件)
(ランキング更新日:2025年5月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4811467 | 質量分析データ解析方法及び装置 | 2011年11月 9日 | |
特許 4811038 | 放射線複合撮像装置 | 2011年11月 9日 | |
特許 4811044 | X線診断装置 | 2011年11月 9日 | |
特許 4813914 | X線撮影装置 | 2011年11月 9日 | |
特許 4811341 | ヘリウムリークディテクタおよびそのヘリウムリークディテクタに設けられた補正電極に印加する電圧の調整方法 | 2011年11月 9日 | |
特許 4811719 | 液晶注入装置 | 2011年11月 9日 | |
特許 4811032 | 反射型レプリカ光学素子 | 2011年11月 9日 | |
特許 4811466 | 質量分析方法及び質量分析装置 | 2011年11月 9日 | |
特許 4811361 | 大気圧化学イオン化質量分析装置 | 2011年11月 9日 | |
特許 4807358 | 圧力差気泡移動制御方法、並びにその方法を用いたガス交換装置、導電率測定装置、全有機体炭素測定装置、反応装置及び細胞培養装置 | 2011年11月 2日 | |
特許 4806979 | 診断装置 | 2011年11月 2日 | |
特許 4807207 | 測定装置および材料試験機 | 2011年11月 2日 | |
特許 4807259 | 撮像素子およびそれを用いた撮像装置、並びに撮像素子を製造する製造方法 | 2011年11月 2日 | |
特許 4805550 | 波長変換レーザ装置 | 2011年11月 2日 | |
特許 4807121 | 放射線検出装置 | 2011年11月 2日 |
534 件中 91-105 件を表示
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4811467 4811038 4811044 4813914 4811341 4811719 4811032 4811466 4811361 4807358 4806979 4807207 4807259 4805550 4807121
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