特許ランキング - 出願人詳細情報 -

独立行政法人産業技術総合研究所

※ ログインすれば出願人(独立行政法人産業技術総合研究所)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第93位　501件（2012年：第83位　517件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第42位　832件（2012年：第31位　960件）

（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

独立行政法人産業技術総合研究所の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2013-73995	太陽電池モジュールの試験方法および試験装置	2013年 4月22日	共同出願
再表 2011-71099	抗癌性抗モータリンペプチド抗体	2013年 4月22日
再表 2011-71103	希土類超電導膜形成用溶液およびその製造方法	2013年 4月22日
特開 2013-72765	溶質分子輸送装置および方法	2013年 4月22日
特開 2013-66842	静電塗装装置	2013年 4月18日
特開 2013-66414	胃前駆細胞の表面マーカー	2013年 4月18日
再表 2011-68165	植物型糖鎖付加酵素遺伝子の同定及びその抑制	2013年 4月18日
再表 2011-68184	移動体の測位装置	2013年 4月18日
特開 2013-70046	太陽電池の欠陥不良検出方法及び装置	2013年 4月18日	共同出願
特開 2013-70045	太陽電池の検査方法及び装置	2013年 4月18日	共同出願
再表 2011-65201	流量測定装置	2013年 4月11日	共同出願
特開 2013-64135	コハク酸系エステル類の製造方法	2013年 4月11日
再表 2011-65271	導電性基板とその製造方法	2013年 4月11日
特開 2013-63082	遺伝子組換え体の定量的検知方法	2013年 4月11日
再表 2011-62279	欠陥を検査する方法、欠陥の検査を行ったウエハまたはそのウエハを用いて製造された半導体素子、ウエハまたは半導体素子の品質管理方法及び欠陥検査装置	2013年 4月11日

501 件中 346-360 件を表示

... 24

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2013-73995 2011-71099 2011-71103 2013-72765 2013-66842 2013-66414 2011-68165 2011-68184 2013-70046 2013-70045 2011-65201 2013-64135 2011-65271 2013-63082 2011-62279

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。独立行政法人産業技術総合研究所の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数