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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第270位 155件
(2011年:第2279位 9件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第225位 172件
(2011年:第1927位 11件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5064651 | 半導体記憶装置 | 2012年10月31日 | 共同出願 |
特許 5055142 | メモリテスト回路 | 2012年10月24日 | |
特許 5055016 | 位相差計測回路 | 2012年10月24日 | |
特許 5058529 | 高耐圧電界効果トランジスタの製造方法 | 2012年10月24日 | 共同出願 |
特許 5059476 | 半導体装置、光測定装置、光検出装置、及び半導体装置の製造方法 | 2012年10月24日 | |
特許 5055100 | 半導体記憶装置 | 2012年10月24日 | |
特許 5053177 | 画像処理装置 | 2012年10月17日 | |
特許 5052991 | メモリセルアレイ及び半導体記憶装置 | 2012年10月17日 | |
特許 5048930 | 回折光学素子,および,回折光学素子の製造方法 | 2012年10月17日 | |
特許 5053771 | パワーオンリセット回路 | 2012年10月17日 | |
特許 5043743 | 半導体装置の製造方法 | 2012年10月10日 | 共同出願 |
特許 5043358 | 傾斜角演算方法及び傾斜角演算装置 | 2012年10月10日 | |
特許 5041834 | 半導体装置の製造方法と半導体装置 | 2012年10月 3日 | |
特許 5041724 | 半導体装置 | 2012年10月 3日 | |
特許 5033071 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 9月26日 | 共同出願 |
172 件中 46-60 件を表示
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5064651 5055142 5055016 5058529 5059476 5055100 5053177 5052991 5048930 5053771 5043743 5043358 5041834 5041724 5033071
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6月16日(月) - 東京 大田
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