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ラピスセミコンダクタ株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第374位 99件
（
2013年：第328位 132件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第271位 148件
（2013年：第233位 174件）
（ランキング更新日：2025年2月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ラピスセミコンダクタ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5535608 | 電圧変化検知装置 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5535492 | 半導体集積回路の検査装置及び半導体集積回路の検査方法 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5535766 | タイマー回路 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5539624 | 薄膜抵抗素子、及び薄膜抵抗素子の製造方法 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5537814 | 半導体装置、及びその製造方法 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5535701 | 半導体集積装置の製造方法及び半導体集積装置 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5530268 | 不揮発性記憶装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530269 | 通信インタフェース装置及び通信方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5529661 | 半導体メモリ | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530218 | 治具 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530092 | 半導体素子 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530083 | 光センサ | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530086 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 6月25日 | 共同出願 |
| 特許 5530214 | 半導体集積装置の評価システム及び評価用半導体チップ | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5529657 | 不揮発性半導体メモリ装置及び再利用方法 | 2014年 6月25日 |
148 件中 61-75 件を表示
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5535608 5535492 5535766 5539624 5537814 5535701 5530268 5530269 5529661 5530218 5530092 5530083 5530086 5530214 5529657
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