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エスケーハイニックス株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第744位 42件
（
2011年： 0件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第199位 196件
（2011年： 0件）
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エスケーハイニックス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5090674 | フラッシュメモリ素子のレジスタ形成方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5090749 | 半導体パッケージ及びその製造方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5090667 | フラッシュメモリ素子の金属配線およびコンタクトプラグ形成方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5089262 | 非晶質カーボン層を利用したシリンダー型キャパシターの製造方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5090727 | 半導体メモリの基準電圧発生装置及び方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5089927 | 半導体素子の製造方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5089094 | 出力ドライバ | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5090619 | 半導体素子およびその製造方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5089882 | フラッシュメモリ装置のプログラム制御回路及びそのプログラム制御方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5090712 | フラッシュメモリ素子のプログラム方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5084118 | 半導体装置のクロック発振器 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5086572 | 遅延固定ループのクロックドライバー制御装置 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5086115 | ウエハーレベル半導体パッケージおよびその製造方法 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5086709 | データ入出力エラー検出機能を有する半導体メモリ装置 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5084071 | 半導体素子の銅金属配線形成方法 | 2012年11月28日 |
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5090674 5090749 5090667 5089262 5090727 5089927 5089094 5090619 5089882 5090712 5084118 5086572 5086115 5086709 5084071
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