ホーム > 特許ランキング > エスケーハイニックス株式会社 > 2025年の特許
※ ログインすれば出願人(エスケーハイニックス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2025年 出願公開件数ランキング 第543位 44件
(
2024年:第571位 49件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第1109位 15件
(
2024年:第941位 24件)
(ランキング更新日:2025年10月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7754639 | エッジ基盤のシャープネス強度制御回路、イメージセンシング装置、及びその動作方法 | 2025年10月15日 | |
| 特許 7738388 | イメージセンシング装置及びその動作方法 | 2025年 9月12日 | |
| 特許 7734480 | イメージセンシング装置及びその駆動方法 | 2025年 9月 5日 | |
| 特許 7721397 | ストレージシステム | 2025年 8月12日 | |
| 特許 7710310 | スマートビニング回路、イメージセンシング装置、及びその動作方法 | 2025年 7月18日 | |
| 特許 7705760 | イメージセンシング装置、その動作方法、及びイメージセンシング方法 | 2025年 7月10日 | |
| 特許 7693295 | ビッグデータ処理のための格納装置節約方法 | 2025年 6月17日 | |
| 特許 7674099 | 演算回路及びそれを含むディープラーニングシステム | 2025年 5月 9日 | |
| 特許 7661136 | アナログ-デジタル変換回路及びイメージセンサ | 2025年 4月14日 | |
| 特許 7657586 | コントローラ、コントローラの動作方法及びそれを含む保存装置 | 2025年 4月 7日 | |
| 特許 7646328 | 飛行時間距離測定方式のセンシングシステム及びイメージセンサ | 2025年 3月17日 | |
| 特許 7634349 | 以前に発生したエラー分析を介してエラー対応動作を選択するためのメモリシステム及びメモリシステムを含むデータ処理システム | 2025年 2月21日 | |
| 特許 7623102 | 垂直型メモリ装置 | 2025年 1月28日 | |
| 特許 7623103 | イメージセンサ | 2025年 1月28日 | |
| 特許 7609555 | キャリブレーション回路及びこれを含む半導体装置 | 2025年 1月 7日 |
15 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
7754639 7738388 7734480 7721397 7710310 7705760 7693295 7674099 7661136 7657586 7646328 7634349 7623102 7623103 7609555
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エスケーハイニックス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
11月4日(火) -
11月4日(火) - 大阪 大阪市
11月4日(火) -
11月5日(水) -
11月5日(水) -
11月6日(木) - 東京 港区
11月6日(木) - 大阪 大阪市
11月6日(木) - 大阪 大阪市
11月7日(金) -
11月7日(金) -
11月7日(金) -
11月4日(火) -
11月10日(月) - 東京 品川区
11月11日(火) - 大阪 大阪市
11月11日(火) - 東京 港区
11月11日(火) -
11月12日(水) - 東京 港区
11月12日(水) -
11月12日(水) -
11月13日(木) -
11月13日(木) -
11月13日(木) -
11月13日(木) -
11月14日(金) -
11月14日(金) - 東京 品川区
11月14日(金) - 東京 千代田区
11月14日(金) -
11月14日(金) - 東京 町田市
11月14日(金) - 大阪 大阪市
11月14日(金) -
11月15日(土) - 神奈川 横浜市
11月10日(月) - 東京 品川区
〒210-0024 神奈川県川崎市川崎区日進町3-4 unicoA 303 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒453-0012 愛知県名古屋市中村区井深町1番1号 新名古屋センタービル・本陣街2階 243-1号室 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング