※ ログインすれば出願人(キヤノン株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第2位 6727件
(2013年:第2位 7638件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1位 5392件
(2013年:第2位 5572件)
(ランキング更新日:2025年3月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-117875 | 画像形成装置、検品装置、画像形成装置の制御方法、検品装置の制御方法及びプログラム | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-117861 | 画像形成装置および画像形成装置の制御方法 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-117855 | 省電力モードで動作可能な情報処理装置、およびその制御方法 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-117841 | 印刷データ検査装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-117821 | 画像形成装置及びその制御方法、並びにプログラム | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-118262 | シート処理装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-120914 | 原稿読取装置及び原稿読取方法 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-120785 | 画像読取装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-118231 | 画像形成装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-118217 | シート給送装置及び画像形成装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-119024 | ダンパ部材および撮像装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-120682 | 露光装置、露光方法及びデバイス製造方法 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-120633 | スーパールミネッセントダイオード、スーパールミネッセントダイオードを備えている光干渉断層撮像装置、及びスーパールミネッセントダイオードの制御方法 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-120068 | 情報処理装置および情報処理方法 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-119442 | 3次元計測装置およびその制御方法 | 2014年 6月30日 |
6727 件中 3151-3165 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2014-117875 2014-117861 2014-117855 2014-117841 2014-117821 2014-118262 2014-120914 2014-120785 2014-118231 2014-118217 2014-119024 2014-120682 2014-120633 2014-120068 2014-119442
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。キヤノン株式会社の知財の動向チェックに便利です。
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月10日(月) - 大阪 大阪市
3月11日(火) - 東京 港区
3月11日(火) - 大阪 大阪市
特許制度に詳しい方にこそ知って欲しい意匠権の使い方 ~コスパの高い意匠権を使って事業を守る方法を、特許権と比較して解説~
3月12日(水) - 東京 港区
3月12日(水) -
3月12日(水) - 愛知 名古屋市中区
3月12日(水) -
3月12日(水) -
3月13日(木) - 東京 港区
3月13日(木) -
3月13日(木) -
3月14日(金) -
3月14日(金) -
3月10日(月) - 大阪 大阪市
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
〒445-0802 愛知県西尾市米津町蓮台6-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング