ホーム > 特許ランキング > 富士フイルム株式会社 > 2012年 > 特許一覧
富士フイルム株式会社
※ ログインすれば出願人(富士フイルム株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第10位 3146件
（
2011年：第10位 3347件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第14位 2275件
（
2011年：第15位 2130件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
富士フイルム株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5097575 | 光学フィルム、偏光板、及び画像表示装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5093898 | 多心フェルール及び光ファイバの接続構造 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097590 | ラマン信号測定方法およびラマン信号測定装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097022 | ラビング用布材および光学フィルムの製造方法 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097833 | 平版印刷方法 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097374 | 光記録用組成物、光記録媒体及びその製造方法、並びに光記録方法及び光記録装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5096253 | ズームレンズおよび撮像装置、ならびに携帯電話機 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097623 | ラビング処理方法および光学フィルムの製造方法 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5097808 | 発光素子 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094182 | 固体撮像素子 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5095114 | 固体撮像装置の製造方法 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5095539 | 収差測定誤差補正方法 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094641 | 反射防止用多孔質光学材料およびその製造方法 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094500 | 液晶表示装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5094496 | ネガ型レジスト組成物及びパターン形成方法 | 2012年12月12日 |
2275 件中 121-135 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5097575 5093898 5097590 5097022 5097833 5097374 5096253 5097623 5097808 5094182 5095114 5095539 5094641 5094500 5094496
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。富士フイルム株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月29日(金) - 東京 港区
12月2日(月) - 滋賀 草津市
新製品開発の「タネ」がみつかる！株式会社リコーによるシーズ発表会 ～リコーの技術(シーズ)やアイデアを使って新製品をつくりませんか？～
12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月4日(水) -
12月4日(水) -
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
【特別講演】第8回 前コミュ 生成AIでビジネスチャンスをつかむ前に、生成AI導入に待ち構える法的ハードルを越える方法 ～ つながりを育む出会いの場（知財ネットワーク交流会）～
12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
12月6日(金) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
新製品開発の「タネ」がみつかる！株式会社リコーによるシーズ発表会 ～リコーの技術(シーズ)やアイデアを使って新製品をつくりませんか？～
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒330-0846 埼玉県さいたま市大宮区大門町3-205 ＡＢＣビル401 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒104-0045 東京都中央区築地1-12-22 コンワビル4F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
横浜市中区本町１－７ 東ビル４階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
