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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第512位 75件
(2012年:第299位 142件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第361位 106件
(2012年:第322位 112件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-206971 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2013年10月 7日 | 共同出願 |
特開 2013-207009 | EUVマスク製造方法およびEUVマスク製造装置 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-202609 | 塗布液塗布装置 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-207210 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-201342 | 被実装部品の実装装置及び実装方法 | 2013年10月 3日 | |
特開 2013-197360 | 基板処理方法及び基板処理システム | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-197312 | 減圧装置および減圧方法 | 2013年 9月30日 | 共同出願 |
特開 2013-191844 | 基板の反転装置、反転方法及び基板の処理装置 | 2013年 9月26日 | |
特開 2013-187369 | 粘着テープの貼着装置及び貼着方法 | 2013年 9月19日 | |
特開 2013-187312 | 半導体セルのリード線接続装置及び接続方法 | 2013年 9月19日 | |
特開 2013-173118 | 微細気泡発生装置、微細気泡発生方法、基板処理装置、および基板処理方法 | 2013年 9月 5日 | |
特開 2013-171996 | 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法 | 2013年 9月 2日 | |
特開 2013-152207 | 検査装置及び検査方法 | 2013年 8月 8日 | |
特開 2013-153141 | 基板の処理装置及び処理方法 | 2013年 8月 8日 | |
特開 2013-152206 | 照明装置、照明方法及び検査装置 | 2013年 8月 8日 |
75 件中 16-30 件を表示
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2013-206971 2013-207009 2013-202609 2013-207210 2013-201342 2013-197360 2013-197312 2013-191844 2013-187369 2013-187312 2013-173118 2013-171996 2013-152207 2013-153141 2013-152206
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2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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2月20日(木) - 東京 港区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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