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アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド

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  2012年 出願公開件数ランキング    第644位 50件 上昇2011年:第869位 34件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第720位 44件 下降2011年:第524位 61件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 4920044 1ステージの遅延による投機的なアドレスデコーダ 2012年 4月18日
特許 4920156 アントレーニングを備えるストア−ロード転送プレディクタ 2012年 4月18日
特許 4912293 コンタクトホールの製造システムおよび方法 2012年 4月11日
特許 4906226 マルチプロセッサコンピュータシステムにおいて、ポストされたリクエストのための別個のバーチャルチャネルを実現するためのシステムおよび方法 2012年 3月28日 共同出願
特許 4896292 NANDフラッシュ・メモリ装置の半導体製造方法 2012年 3月14日 共同出願
特許 4889901 深い接合を有するソース/ドレイン領域を形成する方法 2012年 3月 7日
特許 4890448 相異なるチャネル領域に相異なるよう調整された内在応力を有するエッチストップ層を形成することによって、相異なる機械的応力を生成するための技術 2012年 3月 7日
特許 4886165 デポジション処理によって、相互接続領域を選択的に合金にする方法 2012年 2月29日
特許 4886160 セルフアセンブリによるポリマーフィルムを用いた記憶装置およびその製造方法 2012年 2月29日
特許 4880512 モデル予測制御を用いた、半導体製作における個別部品の生産を制御するための方法およびコントローラ装置 2012年 2月22日
特許 4875075 セキュアパッチシステム 2012年 2月15日
特許 4866549 低減された界面粗さ(界面ラフネス)を有するニッケルシリサイド 2012年 2月 1日
特許 4864290 半導体デバイス上の構造の寸法を測定するために使用される、非破壊光波測定(光波散乱計測)(scatterometry)に基づいた測定ツールを較正する方法と構造 2012年 2月 1日
特許 4849773 自動生産システム 2012年 1月11日

44 件中 31-44 件を表示

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4920044 4920156 4912293 4906226 4896292 4889901 4890448 4886165 4886160 4880512 4875075 4866549 4864290 4849773

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