富士通株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第9位 3142件
（
2012年：第11位 3031件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第7位 3451件
（
2012年：第7位 3225件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5372323 | 界面ラフネス緩和膜、これを用いた配線層および半導体装置ならびに半導体装置の製造方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5370130 | 情報管理装置、情報管理方法、情報管理プログラム。 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5370591 | システムおよび障害処理方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5370478 | 名寄せ装置、名寄せ方法および名寄せプログラム | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369587 | 情報処理装置、情報処理システム、方法、およびプログラム | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369813 | 説得支援装置、説得支援プログラム及び説得支援方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5370256 | 解析支援プログラム、解析支援装置および解析支援方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5370441 | 窒化ガリウム系ＨＥＭＴの製造方法及び窒化ガリウム系ＨＥＭＴ | 2013年12月18日 | |
| 特許 5370141 | アンテナ装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369739 | 通信制御プログラム、通信制御装置及びナビゲーション装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369679 | 装着装置及び電子装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369472 | 半導体装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369544 | 半導体装置およびその製造方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369518 | 抵抗素子及びその製造方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369430 | 可変遅延回路，メモリ制御回路，遅延量設定装置，遅延量設定方法および遅延量設定プログラム | 2013年12月18日 |
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5372323 5370130 5370591 5370478 5369587 5369813 5370256 5370441 5370141 5369739 5369679 5369472 5369544 5369518 5369430
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