株式会社 ＮＧＲ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第1756位 13件
（
2019年：第1468位 17件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第24204位 0件
（2019年：第23568位 0件）
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株式会社 ＮＧＲの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-161769 | 画像生成方法 | 2020年10月 1日 | |
| 特開 2020-154977 | パターンマッチング方法 | 2020年 9月24日 | |
| 特開 2020-155598 | 静電チャック | 2020年 9月24日 | |
| 特開 2020-150107 | 半導体パターン測長処理装置 | 2020年 9月17日 | |
| 特開 2020-144995 | 画像歪みの除去方法 | 2020年 9月10日 | |
| 特開 2020-145330 | 画像生成装置 | 2020年 9月10日 | |
| 特開 2020-136231 | 半導体検査装置 | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-136623 | 静電チャック | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-123034 | 画像マッチング支援方法、画像マッチング支援装置、および画像マッチング支援方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | 2020年 8月13日 | |
| 特開 2020-123064 | 画像マッチング判定方法、画像マッチング判定装置、および画像マッチング判定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | 2020年 8月13日 | |
| 特開 2020-123521 | ステージ移動システム | 2020年 8月13日 | |
| 特開 2020-119665 | 走査電子顕微鏡 | 2020年 8月 6日 | |
| 特開 2020-67779 | ウェーハに形成されたパターンの欠陥を検出する方法 | 2020年 4月30日 |
13 件中 1-13 件を表示
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2020-161769 2020-154977 2020-155598 2020-150107 2020-144995 2020-145330 2020-136231 2020-136623 2020-123034 2020-123064 2020-123521 2020-119665 2020-67779
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