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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第1420位 17件 (2020年:第1756位 13件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第2874位 5件 (2020年:第24204位 0件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2021-197225 | 画像生成方法 | 2021年12月27日 | |
特開 2021-182601 | パターン測定方法 | 2021年11月25日 | |
再表 2020-121739 | 画像マッチング方法、および画像マッチング処理を実行するための演算システム | 2021年11月 4日 | |
特開 2021-174305 | 画像生成方法および画像生成システム | 2021年11月 1日 | |
特開 2021-174969 | パターン欠陥検出方法 | 2021年11月 1日 | |
特開 2021-162527 | 半導体の欠陥検出装置及びプログラム | 2021年10月11日 | |
特開 2021-163689 | 検査チャンバから試料ステージを取り出す装置および方法 | 2021年10月11日 | |
特開 2021-156341 | 荷重吸収装置 | 2021年10月 7日 | |
特開 2021-156345 | フレキシブル継手装置 | 2021年10月 7日 | |
特開 2021-157915 | 走査電子顕微鏡 | 2021年10月 7日 | |
特開 2021-131660 | 寸法測定方法および寸法測定装置 | 2021年 9月 9日 | |
特開 2021-111365 | パターンエッジ検出方法、パターンエッジ検出装置、パターンエッジ検出をコンピュータに実行させるためのプログラムが記録された記録媒体 | 2021年 8月 2日 | |
特開 2021-82447 | 画像生成システム | 2021年 5月27日 | |
特開 2021-52047 | 欠陥検出装置及びパラメータ調整方法ならびにパラメータ調整システム | 2021年 4月 1日 | |
特開 2021-12491 | 欠陥原因推定装置、プログラム及び方法 | 2021年 2月 4日 |
17 件中 1-15 件を表示
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2021-197225 2021-182601 2020-121739 2021-174305 2021-174969 2021-162527 2021-163689 2021-156341 2021-156345 2021-157915 2021-131660 2021-111365 2021-82447 2021-52047 2021-12491
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1月31日(金) -
1月31日(金) -
2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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