特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社　ＮＧＲ

※ ログインすれば出願人(株式会社　ＮＧＲ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2021年出願公開件数ランキング　　　第1420位　17件（2020年：第1756位　13件）

　■　2021年特許取得件数ランキング　　　第2874位　5件（2020年：第24204位　0件）

（ランキング更新日：2025年3月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社　ＮＧＲの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2021-197225	画像生成方法	2021年12月27日
特開 2021-182601	パターン測定方法	2021年11月25日
再表 2020-121739	画像マッチング方法、および画像マッチング処理を実行するための演算システム	2021年11月 4日
特開 2021-174305	画像生成方法および画像生成システム	2021年11月 1日
特開 2021-174969	パターン欠陥検出方法	2021年11月 1日
特開 2021-162527	半導体の欠陥検出装置及びプログラム	2021年10月11日
特開 2021-163689	検査チャンバから試料ステージを取り出す装置および方法	2021年10月11日
特開 2021-156341	荷重吸収装置	2021年10月 7日
特開 2021-156345	フレキシブル継手装置	2021年10月 7日
特開 2021-157915	走査電子顕微鏡	2021年10月 7日
特開 2021-131660	寸法測定方法および寸法測定装置	2021年 9月 9日
特開 2021-111365	パターンエッジ検出方法、パターンエッジ検出装置、パターンエッジ検出をコンピュータに実行させるためのプログラムが記録された記録媒体	2021年 8月 2日
特開 2021-82447	画像生成システム	2021年 5月27日
特開 2021-52047	欠陥検出装置及びパラメータ調整方法ならびにパラメータ調整システム	2021年 4月 1日
特開 2021-12491	欠陥原因推定装置、プログラム及び方法	2021年 2月 4日

17 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2021-197225 2021-182601 2020-121739 2021-174305 2021-174969 2021-162527 2021-163689 2021-156341 2021-156345 2021-157915 2021-131660 2021-111365 2021-82447 2021-52047 2021-12491

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社　ＮＧＲの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数