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株式会社住化分析センター
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第1667位 14件
（
2015年：第2742位 7件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第2983位 5件
（
2015年：第2211位 7件）
（ランキング更新日：2025年12月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社住化分析センターの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6027724 | 微小粒子の検査方法 | 2016年11月16日 | |
| 特許 6001604 | 電極に対するＸ線を用いた二次元測定の方法 | 2016年10月 5日 | |
| 特許 5955550 | ガス透過度の測定方法および測定試料 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5890034 | 前処理決定装置、前処理法決定方法、制御プログラム、および記録媒体 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5865068 | ガス透過度の測定方法および測定試料 | 2016年 2月17日 |
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6027724 6001604 5955550 5890034 5865068
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