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ノヴァ メジャリング インスツルメンツ インコーポレイテッド
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第7573位 2件
（
2019年：第34904位 0件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第8780位 1件
（
2019年：第8774位 1件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ノヴァ メジャリング インスツルメンツ インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-202379 | 二次イオン質量分析を用いた半導体測定および表面分析のためのシステムならびに手法 | 2020年12月17日 | |
| 特表 2020-520069 | 質量分析計検出器，ならびにこれを用いるシステムおよび方法 | 2020年 7月 2日 |
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2020-202379 2020-520069
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