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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第83位 507件
(2014年:第109位 428件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第111位 267件
(2014年:第89位 435件)
(ランキング更新日:2025年6月30日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5810983 | 質量分析を用いた化合物同定方法及び化合物同定システム | 2015年11月11日 | |
特許 5810984 | プローブ | 2015年11月11日 | |
特許 5811023 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | 2015年11月11日 | |
特許 5811092 | 表面処理装置および表面処理方法 | 2015年11月11日 | |
特許 5811352 | 蛍光X線分析装置 | 2015年11月11日 | |
特許 5811379 | におい嗅ぎ−ガスクロマトグラフ質量分析装置 | 2015年11月11日 | |
特許 5811702 | 温度制御装置 | 2015年11月11日 | |
特許 5811887 | 全有機炭素計 | 2015年11月11日 | |
特許 5811912 | 質量分析装置 | 2015年11月11日 | |
特許 5811942 | ガス濃度測定装置 | 2015年11月11日 | |
特許 5811956 | 分光器の校正装置及び校正方法 | 2015年11月11日 | |
特許 5811970 | サンプルホルダ | 2015年11月11日 | |
特許 5811994 | 試料加熱装置及び元素分析計 | 2015年11月11日 | |
特許 5812112 | 放射線検出器およびその製造方法 | 2015年11月11日 | |
特許 5806457 | 表面分析装置 | 2015年11月10日 |
273 件中 31-45 件を表示
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5810983 5810984 5811023 5811092 5811352 5811379 5811702 5811887 5811912 5811942 5811956 5811970 5811994 5812112 5806457
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