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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第133位 271件
(2021年:第55位 653件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第60位 512件
(2021年:第82位 328件)
(ランキング更新日:2025年9月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7115640 | 光計測装置およびプローブホルダセット | 2022年 8月 9日 | |
特許 7115693 | 診断支援システム、診断支援装置および診断支援方法 | 2022年 8月 9日 | |
特許 7110697 | X線イメージング装置 | 2022年 8月 2日 | |
特許 7110765 | 4種の物質の含有率を測定する測定方法、測定処理プログラムおよび測定装置 | 2022年 8月 2日 | |
特許 7110900 | 磁性体粒子操作用装置 | 2022年 8月 2日 | |
特許 7110992 | X線撮影装置 | 2022年 8月 2日 | |
特許 7111021 | 分析システムおよび温調システム | 2022年 8月 2日 | |
特許 7111166 | X線位相イメージング装置 | 2022年 8月 2日 | |
特許 7111169 | 質量分析装置の評価方法、質量分析装置の較正方法、分析方法、質量分析装置および質量分析用試薬 | 2022年 8月 2日 | |
特許 7111179 | 診断画像システムおよび診断画像管理方法 | 2022年 8月 2日 | |
特許 7109026 | イオン分析装置 | 2022年 7月29日 | |
特許 7107076 | X線撮影装置 | 2022年 7月27日 | |
特許 7107182 | 放射線撮影装置 | 2022年 7月27日 | |
特許 7107326 | 探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置 | 2022年 7月27日 | |
特許 7107368 | 分析方法 | 2022年 7月27日 |
523 件中 226-240 件を表示
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7115640 7115693 7110697 7110765 7110900 7110992 7111021 7111166 7111169 7111179 7109026 7107076 7107182 7107326 7107368
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