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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第108位 421件
(2014年:第35位 969件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第55位 425件
(2014年:第46位 732件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2015-220367 | 半導体装置およびその製造方法 | 2015年12月 7日 | |
特開 2015-220379 | 集積回路デバイスの潜在不良検査装置、方法およびプログラム | 2015年12月 7日 | |
特開 2015-220441 | 半導体製造装置 | 2015年12月 7日 | |
特開 2015-216203 | 半導体装置 | 2015年12月 3日 | |
特開 2015-216218 | 半導体装置 | 2015年12月 3日 | |
特開 2015-216307 | 半導体装置の製造方法 | 2015年12月 3日 | |
特開 2015-216571 | 光結合回路、光結合回路の受光装置及び信号処理装置 | 2015年12月 3日 | |
特開 2015-213193 | IGBT | 2015年11月26日 | |
特開 2015-210533 | データバス駆動回路、それを備えた半導体装置及び半導体記憶装置 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-211108 | 半導体装置 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-211138 | 半導体装置およびその製造方法 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-211171 | 半導体装置 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-211517 | 電源装置、及び電源装置の制御方法 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-211574 | 電源回路、及び電源回路の制御方法 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-206785 | 半導体装置、診断テスト方法及び診断テスト回路 | 2015年11月19日 |
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2015-220367 2015-220379 2015-220441 2015-216203 2015-216218 2015-216307 2015-216571 2015-213193 2015-210533 2015-211108 2015-211138 2015-211171 2015-211517 2015-211574 2015-206785
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【特許のはなし・生成系AIのリスクのはなし】~特許の使い方・使える特許の作り方と、生成系AIを業務で使う場合のリスクと対応策について~
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