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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第336位 113件
(2015年:第475位 70件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第282位 116件
(2015年:第239位 124件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6021399 | 半導体装置の製造方法 | 2016年11月 9日 | |
特許 6021441 | 半導体装置 | 2016年11月 9日 | |
特許 6022843 | 無線通信装置および受信信号の処理方法 | 2016年11月 9日 | |
特許 6022873 | 映像表示装置 | 2016年11月 9日 | |
特許 6017901 | 半導体装置および計測装置 | 2016年11月 2日 | |
特許 6018660 | 半導体装置 | 2016年11月 2日 | |
特許 6018773 | 半導体素子の製造方法及び製造装置 | 2016年11月 2日 | |
特許 6013711 | 半導体集積回路及び半導体集積回路のデバッグ方法 | 2016年10月25日 | |
特許 6013841 | 半導体装置 | 2016年10月25日 | |
特許 6013845 | 受信機及び受信方法 | 2016年10月25日 | |
特許 6014224 | クランプ回路、半導体装置、信号処理システム、及び信号クランプ方法 | 2016年10月25日 | |
特許 6009192 | 半導体装置の製造方法 | 2016年10月19日 | |
特許 6009283 | 試験装置、試験システム、及び試験方法 | 2016年10月19日 | |
特許 6009597 | 過電圧保護回路及び半導体集積回路 | 2016年10月19日 | |
特許 6010645 | 検査装置及び方法 | 2016年10月19日 |
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6021399 6021441 6022843 6022873 6017901 6018660 6018773 6013711 6013841 6013845 6014224 6009192 6009283 6009597 6010645
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