ホーム > 特許ランキング > ラピスセミコンダクタ株式会社 > 2016年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(ラピスセミコンダクタ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第336位 113件
(2015年:第475位 70件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第282位 116件
(2015年:第239位 124件)
(ランキング更新日:2025年8月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5986361 | 半導体装置及びその製造方法 | 2016年 9月 6日 | |
特許 5986420 | 可変抵抗回路、半導体装置およびトリミング方法 | 2016年 9月 6日 | |
特許 5980509 | 電池残量測定システム及び電池残量測定方法 | 2016年 8月31日 | |
特許 5980632 | 半導体装置及び計測機器 | 2016年 8月31日 | |
特許 5981002 | コントローラIC及び携帯機器 | 2016年 8月31日 | |
特許 5973008 | 表示パネル | 2016年 8月17日 | |
特許 5960445 | 半導体装置 | 2016年 8月 2日 | |
特許 5960867 | 半導体装置 | 2016年 8月 2日 | |
特許 5961345 | 通信装置、制御信号生成方法、シャッターメガネ、及び通信システム | 2016年 8月 2日 | |
特許 5961347 | 電池監視システム及び放電方法 | 2016年 8月 2日 | |
特許 5961374 | 電源装置、電源装置の制御方法及び電子機器 | 2016年 8月 2日 | |
特許 5961508 | ソースドライバICチップ | 2016年 8月 2日 | |
特許 5955045 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 | 2016年 7月20日 | |
特許 5951966 | 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、及びプログラム | 2016年 7月13日 | |
特許 5952019 | 情報処理装置、半導体装置、及び消費電力抑制方法 | 2016年 7月13日 |
116 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5986361 5986420 5980509 5980632 5981002 5973008 5960445 5960867 5961345 5961347 5961374 5961508 5955045 5951966 5952019
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ラピスセミコンダクタ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
8月29日(金) - 大阪 大阪市
8月29日(金) -
8月29日(金) -
8月29日(金) - 東京 港区
8月29日(金) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月1日(月) - 東京 港区
特許庁:AI/DX時代に即した産業財産権制度について ~有識者委員会での議論を踏まえた、特許・意匠制度の見直しの方向性~
9月1日(月) -
9月2日(火) -
9月2日(火) -
9月2日(火) - 東京 港区
9月3日(水) -
9月3日(水) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月4日(木) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月5日(金) -
9月5日(金) -
9月6日(土) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
群馬県前橋市北代田町645-5 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
特許業務法人 藤本パートナーズ 株式会社ネットス 株式会社パトラ
大阪オフィス:大阪市中央区南船場1-15-14 堺筋稲畑ビル2F 5F 東京オフィス:東京都千代田区平河町1-1-8 麹町市原ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング