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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第360位 120件
(2016年:第297位 130件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第269位 111件
(2016年:第265位 122件)
(ランキング更新日:2025年6月27日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6121278 | 切替制御回路および測定装置 | 2017年 4月26日 | |
特許 6116408 | 波形表示装置、波形表示方法および波形表示プログラム | 2017年 4月19日 | |
特許 6116409 | 波形表示装置、波形表示方法および波形表示用プログラム | 2017年 4月19日 | |
特許 6116419 | データ生成装置および基板検査システム | 2017年 4月19日 | |
特許 6116992 | 回路基板検査装置 | 2017年 4月19日 | |
特許 6118125 | 波形表示装置、及びプログラム | 2017年 4月19日 | |
特許 6118656 | 基板検査装置 | 2017年 4月19日 | |
特許 6112890 | プローブユニット、基板検査装置およびプローブユニット組立方法 | 2017年 4月12日 | |
特許 6112896 | 基板検査装置および補正情報取得方法 | 2017年 4月12日 | |
特許 6113220 | 太陽電池検査装置および太陽電池検査方法 | 2017年 4月12日 | |
特許 6113428 | 電池収容装置 | 2017年 4月12日 | |
特許 6113458 | 測定装置 | 2017年 4月12日 | |
特許 6110191 | 検査装置および検査処理装置 | 2017年 4月 5日 | |
特許 6110233 | 抵抗保持機構、実装基板および測定装置 | 2017年 4月 5日 | |
特許 6110251 | 測定結果表示装置、測定システムおよび測定結果表示用プログラム | 2017年 4月 5日 |
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6121278 6116408 6116409 6116419 6116992 6118125 6118656 6112890 6112896 6113220 6113428 6113458 6110191 6110233 6110251
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