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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第360位 120件
(2016年:第297位 130件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第269位 111件
(2016年:第265位 122件)
(ランキング更新日:2025年6月27日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6104578 | 検査装置および検査方法 | 2017年 3月29日 | |
特許 6104720 | プローブユニットおよび基板検査装置 | 2017年 3月29日 | |
特許 6104724 | プローブユニット、基板検査装置およびプローブユニット製造方法 | 2017年 3月29日 | |
特許 6104733 | クランプセンサおよび測定装置 | 2017年 3月29日 | |
特許 6104750 | クランプセンサおよび測定装置 | 2017年 3月29日 | |
特許 6091105 | 物理量測定装置および物理量測定方法 | 2017年 3月 8日 | |
特許 6091141 | 検査装置および検査方法 | 2017年 3月 8日 | |
特許 6091328 | 測定装置 | 2017年 3月 8日 | |
特許 6091330 | 測定装置 | 2017年 3月 8日 | |
特許 6088860 | 非接触電圧測定器 | 2017年 3月 1日 | |
特許 6081183 | 測定結果表示装置、測定システムおよび測定結果表示方法 | 2017年 2月15日 | |
特許 6075769 | データ処理装置 | 2017年 2月 8日 | |
特許 6075770 | データ処理装置 | 2017年 2月 8日 | |
特許 6075771 | データ処理装置 | 2017年 2月 8日 | |
特許 6076034 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2017年 2月 8日 |
112 件中 91-105 件を表示
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6104578 6104720 6104724 6104733 6104750 6091105 6091141 6091328 6091330 6088860 6081183 6075769 6075770 6075771 6076034
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