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日置電機株式会社

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  2017年 出願公開件数ランキング    第360位 120件 下降2016年:第297位 130件)

  2017年 特許取得件数ランキング    第269位 111件 下降2016年:第265位 122件)

(ランキング更新日:2025年6月27日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6144984 補正用治具 2017年 6月 7日
特許 6138640 回路基板検査装置 2017年 5月31日
特許 6138659 回路基板検査装置 2017年 5月31日
特許 6138660 基板検査装置および基板検査方法 2017年 5月31日
特許 6132507 基板支持装置および基板検査装置 2017年 5月24日
特許 6132591 電子機器用筐体 2017年 5月24日
特許 6132718 インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法 2017年 5月24日
特許 6134226 四端子抵抗測定装置 2017年 5月24日
特許 6128957 測定装置 2017年 5月17日
特許 6129011 検査ポイント設定装置、及び基板検査装置 2017年 5月17日
特許 6124580 測定システム 2017年 5月10日
特許 6125203 基板搬送装置 2017年 5月10日
特許 6126372 接地抵抗計および接地抵抗測定方法、ならびにプログラム 2017年 5月10日
特許 6121154 検査装置および検査方法 2017年 4月26日
特許 6121272 波形表示装置、波形表示方法および波形表示プログラム 2017年 4月26日

112 件中 61-75 件を表示

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6144984 6138640 6138659 6138660 6132507 6132591 6132718 6134226 6128957 6129011 6124580 6125203 6126372 6121154 6121272

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