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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第120位 389件 (2018年:第92位 456件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第98位 282件 (2018年:第116位 260件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2019-175422 | 画像処理方法、画像処理装置、プログラムおよび記憶媒体 | 2019年10月10日 | |
特開 2019-176125 | 基板処理方法および基板処理装置 | 2019年10月10日 | |
特開 2019-176180 | 基板処理装置 | 2019年10月10日 | |
特開 2019-166199 | 印刷装置および印刷方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-166460 | 基板処理装置および基板処理方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-166666 | 乾燥装置及びそれを備えたインクジェット印刷装置 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-166727 | 印刷装置、印刷方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-166799 | インクジェット印刷装置およびインクジェット印刷装置における印刷媒体加熱方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-167171 | 搬送装置および搬送方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-167208 | 合紙除去装置および合紙除去方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-167233 | 印刷装置および印刷装置における長尺印刷用紙搬送方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-168232 | 基板検査装置、基板処理装置、基板検査方法および基板処理方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-168233 | 基板検査装置、基板処理装置、基板検査方法および基板処理方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-168307 | 放射温度計の校正方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-168312 | 光干渉断層撮像装置および光干渉断層撮像方法 | 2019年10月 3日 |
392 件中 46-60 件を表示
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2019-175422 2019-176125 2019-176180 2019-166199 2019-166460 2019-166666 2019-166727 2019-166799 2019-167171 2019-167208 2019-167233 2019-168232 2019-168233 2019-168307 2019-168312
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11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
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11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
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11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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