ホーム > 特許ランキング > 同方威視技術股▲フン▼有限公司 > 2018年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(同方威視技術股▲フン▼有限公司)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2018年 出願公開件数ランキング 第12401位 1件
(2017年:第3759位 5件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第2781位 5件
(2017年:第4057位 3件)
(ランキング更新日:2025年3月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6445127 | 貨物の検査方法およびそのシステム | 2018年12月26日 | |
特許 6382320 | X線装置及び該X線装置を有するCTデバイス | 2018年 8月29日 | |
特許 6359109 | 気相物質分析装置及び気相導入装置 | 2018年 7月18日 | |
特許 6345876 | イオン移動度分光計における持続的に動作可能な気体浄化装置 | 2018年 6月20日 | |
特許 6333989 | サンプリング装置及びガスカーテンガイド | 2018年 5月30日 | |
特許 6305544 | CTシステム及びその方法 | 2018年 4月 4日 | |
特許 6306738 | 検査デバイス、方法およびシステム | 2018年 4月 4日 | |
特許 6286042 | 試料の採集、導入及び熱解析装置と方法並びに痕跡量検出設備 | 2018年 2月28日 | |
特許 6263629 | 平坦化したX線放射場を発生する装置及び方法 | 2018年 1月17日 | |
特許 6259524 | X線装置及び該X線装置を有するCTデバイス | 2018年 1月10日 |
10 件中 1-10 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6445127 6382320 6359109 6345876 6333989 6305544 6306738 6286042 6263629 6259524
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。同方威視技術股▲フン▼有限公司の知財の動向チェックに便利です。
3月24日(月) -
3月25日(火) - 東京 品川区
3月25日(火) -
3月26日(水) - 東京 港区
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月24日(月) -
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー21F・22F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング