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パルステック工業株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第1852位 12件
（
2010年：第1499位 18件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第1078位 24件
（
2010年：第1321位 16件）
（ランキング更新日：2025年3月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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パルステック工業株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-242139 | ３次元形状測定装置及び３次元形状測定方法 | 2011年12月 1日 | |
| 特開 2011-215089 | ３次元形状測定装置 | 2011年10月27日 | |
| 特開 2011-196736 | 光学式表面粗さ測定装置 | 2011年10月 6日 | |
| 特開 2011-158318 | 透光性基板検査装置 | 2011年 8月18日 | |
| 特開 2011-146098 | ホログラム記録再生装置 | 2011年 7月28日 | |
| 特開 2011-104630 | レーザ加工装置 | 2011年 6月 2日 | |
| 特開 2011-98378 | レーザ加工装置 | 2011年 5月19日 | |
| 特開 2011-83795 | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 | 2011年 4月28日 | |
| 特開 2011-56561 | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 | 2011年 3月24日 | |
| 特開 2011-54243 | 光ディスク原盤からの光透過膜の除去方法 | 2011年 3月17日 | |
| 特開 2011-28796 | パルス幅及びジッタを測定するための装置及び方法 | 2011年 2月10日 | |
| 特開 2011-8886 | 光ヘッド装置における対物レンズの支持機構 | 2011年 1月13日 |
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2011-242139 2011-215089 2011-196736 2011-158318 2011-146098 2011-104630 2011-98378 2011-83795 2011-56561 2011-54243 2011-28796 2011-8886
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