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パルステック工業株式会社

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  2012年 出願公開件数ランキング    第982位 29件 上昇2011年:第1852位 12件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第1326位 20件 下降2011年:第1078位 24件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2012-256788 太陽電池セル検査装置 2012年12月27日
特開 2012-251775 X線回折測定装置 2012年12月20日
特開 2012-242153 2次電池の検査装置及び検査方法 2012年12月10日
特開 2012-233742 太陽電池セル検査装置 2012年11月29日
特開 2012-225796 X線回折装置 2012年11月15日
特開 2012-220343 透光性管状物体の厚さ測定装置 2012年11月12日
特開 2012-207947 電解液濃度測定装置 2012年10月25日
特開 2012-198162 透光性管状物体の厚さ測定装置 2012年10月18日
特開 2012-181151 透光性板状物体の厚さ測定装置 2012年 9月20日
特開 2012-169395 太陽電池検査装置 2012年 9月 6日
特開 2012-167977 太陽電池検査装置 2012年 9月 6日
特開 2012-137313 3次元形状測定装置 2012年 7月19日
特開 2012-129275 太陽電池セル検査装置 2012年 7月 5日
特開 2012-124451 太陽電池検査装置 2012年 6月28日
特開 2012-115875 レーザ加工装置及びレーザ加工装置のサーボ制御方法 2012年 6月21日

29 件中 1-15 件を表示

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2012-256788 2012-251775 2012-242153 2012-233742 2012-225796 2012-220343 2012-207947 2012-198162 2012-181151 2012-169395 2012-167977 2012-137313 2012-129275 2012-124451 2012-115875

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