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パルステック工業株式会社
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第2477位 9件
（
2016年：第2477位 8件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1518位 12件
（
2016年：第1218位 17件）
（ランキング更新日：2024年11月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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パルステック工業株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2017-185212 | 光軸位置測定システム、光軸位置測定方法、光軸位置測定プログラム、光軸位置測定装置 | 2017年10月12日 | |
| 特開 2017-129513 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 7月27日 | |
| 特開 2017-129514 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 7月27日 | |
| 特開 2017-101929 | Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法 | 2017年 6月 8日 | |
| 特開 2017-96818 | ３次元形状測定装置 | 2017年 6月 1日 | |
| 特開 2017-97343 | 光学観察装置 | 2017年 6月 1日 | |
| 特開 2017-67704 | ３次元形状データ作成方法及びそれを用いた部品検査方法、並びに３次元形状データ作成装置及び部品検査プログラム | 2017年 4月 6日 | |
| 特開 2017-32282 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 2月 9日 | |
| 特開 2017-32283 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 2月 9日 | |
| 特開 2017-32284 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 2月 9日 | |
| 再表 2014-128874 | 回折環形成装置及びＸ線回折測定装置 | 2017年 2月 2日 |
11 件中 1-11 件を表示
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2017-185212 2017-129513 2017-129514 2017-101929 2017-96818 2017-97343 2017-67704 2017-32282 2017-32283 2017-32284 2014-128874
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