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ＪＳＷアクティナシステム株式会社
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（
2023年：第2343位 9件）
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（
2023年：第3124位 5件）
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ＪＳＷアクティナシステム株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7583571 | レーザ照射装置、レーザ照射方法、及び半導体装置の製造方法 | 2024年11月14日 | |
| 特許 7579112 | レーザ照射装置、及び半導体装置の製造方法 | 2024年11月 7日 | |
| 特許 7575971 | レーザ照射装置、レーザ照射方法、及び有機ＥＬディスプレイの製造方法 | 2024年10月30日 | |
| 特許 7572771 | 基板浮上型レーザ処理装置及び浮上量の測定方法 | 2024年10月24日 | |
| 特許 7542350 | レーザアニール装置、レーザアニール方法、及び半導体装置の製造方法 | 2024年 8月30日 | |
| 特許 7534892 | レーザアニール装置、レーザアニール方法、及び半導体装置の製造方法 | 2024年 8月15日 | |
| 特許 7525989 | レーザ処理装置及びレーザ光モニタ方法 | 2024年 7月31日 | |
| 特許 7474579 | レーザ処理装置及びレーザビームのプロファイル測定方法 | 2024年 4月25日 | |
| 特許 7437186 | 浮上搬送装置、及びレーザ処理装置 | 2024年 2月22日 | |
| 特許 7437187 | 浮上搬送装置、及びレーザ処理装置 | 2024年 2月22日 | |
| 特許 7425837 | レーザ照射装置及び半導体装置の製造方法 | 2024年 1月31日 | |
| 特許 7412111 | レーザ処理装置及び半導体装置の製造方法 | 2024年 1月12日 |
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7583571 7579112 7575971 7572771 7542350 7534892 7525989 7474579 7437186 7437187 7425837 7412111
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