出願人名に「株式会社アドバン」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 再表 2010-4754 | 試験装置、試験方法、及び位相シフタ | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月22日 |
| 再表 2010-4755 | 試験装置、及び試験方法 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月22日 |
| 再表 2010-4844 | 電子部品の試験方法、インサート、トレイ及び電子部品試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月22日 |
| 再表 2010-1440 | 試験装置およびソケットボード | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月15日 |
| 再表 2010-1468 | 試験装置、プログラム、および、記録媒体 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月15日 |
| 特開 2011-253623 | アクチュエータ装置、試験装置、およびアクチュエータ制御方法 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月15日 |
| 特開 2011-249182 | スイッチ装置、試験装置、スイッチ方法、および製造方法 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
| 特開 2011-248591 | ビット並べ替え回路およびそれを用いた試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
| 再表 2009-157126 | 試験装置およびドライバ回路 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
| 特開 2011-247589 | 試験装置、制御ボード、および試験装置の構成方法 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
| 特開 2011-247750 | 試験装置および接続部 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
| 特開 2011-247754 | 試験装置及び診断方法 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
| 特開 2011-247782 | 試験装置及びタイミング調整方法 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
| 特開 2011-247783 | 試験装置および信号処理回路 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
| 特開 2011-247792 | プローブ構造体、プローブ装置、プローブ構造体の製造方法、および試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2011年12月 8日 |
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2010-4754 2010-4755 2010-4844 2010-1440 2010-1468 2011-253623 2011-249182 2011-248591 2009-157126 2011-247589 2011-247750 2011-247754 2011-247782 2011-247783 2011-247792
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